模拟外设(30)
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LAT1370 STM32G431 双ADC注入并发模式异常解析
(0.1M)
32
2024-04-07

文档说明:某客户使用 STM32G431 的双 ADC 注入组同步采样,两个 ADC 各采集两个注入组通道,在选择独立模式 independent mode 时是 ok 的,但是配置为仅注入组同步模式 Dual injected simultaneous mode only 后,只有 ADC1(主)会触发采样,ADC2(从)不会触发,客户想了解背后的原因会是什么。

LAT1337 STM32G0B1 ADC数据异常原因
(0.1M)
51
2024-02-22

文档说明:在设计之前,强烈建议客户除了阅读参考手册,数据手册等资料外,阅读芯片勘误表也是极为重要的,这样可以规避芯片本身已知的一些局限。

LAT1407 通过LSE校准HSI偏差大的问题解决
(0.1M)
30
2024-02-22

文档说明:某客户使用 STM8AL 时,由于设计限制需使用 HSI 作为系统时钟。为减小 HSI 偏差,使用 LSE 对其进行校准。小批量试产发现 3%左右产品校准后频率和 16MHz 偏差较大。

LAT1362 利用STM32 TIMER触发ADC实现分组转换
(0.1M)
210
2024-01-03

文档说明:有客户使用 STM32G4 系列芯片开发产品,用到其中一个 ADC 模块的多个通道,他希望使用 TIMER 来定时触发这几个通道的转换。不过他有两点疑惑。第一,他期望定时器触发这几个通道是每触发一次则只转换一个通道,这样依次触发转换,而不是触发一次就把几个通道都转换完结。他不知这样是否可行?第二,既然是 TIMER 每触发一次就转换一次,如果说某个通道正在转换时来了触发,这个触发事件是否会丢失?是否会导致最终转换的数据混乱。

LAT1332 基于STM32U5片内温度传感器正确测算温度
(0.1M)
206
2023-10-18

文档说明:STM32 在内部都带有一个温度传感器,STM32U5 也不例外。这个位于晶圆上的温度 传感器虽然不太适合用来测量外部环境的温度,但是用于监控一下晶圆上的温度也是挺好的,可以防止芯片过温运行。

LAT1334 基于MCSDK5.4.8电机库修改两电阻采样方法
(0.1M)
220
2023-10-18

文档说明:在当前使用的电机电阻采样方式中分为单电阻,双电阻,三电阻三种方式,其中在 ST MCSDK5.4 库中支持了两种采样方式,单电阻和三电阻,在市面还存在另外一种采样方式,即双电阻采样,本文讨论的是如何修改现有驱动库支持该种采样方式。

LAT1308 STM32U5 ADC自校准不成功的问题分析
(0.1M)
268
2023-08-17

文档说明:很多STM32系列中的ADC都带有自校准的功能。它提供了一个自动校准的过程,用于驱动包括ADC上电/掉电序列在内的所有校准动作。在这个过程中,ADC计算出一个校准因子,并在内部应用到此ADC模块,直到下一次ADC掉电。在执行任何ADC操作之前必须校准,以消除芯片之间ADC结果的偏差。

LAT1220 关于BlueNRG-2在低功耗模式下端口保持的问题
(0.1M)
311
2023-01-11

文档说明:BlueNRG-2 作为一款高性能低成本的低功耗蓝牙 SoC 解决方案,实现了在有限的资源下兼容蓝牙 5.2 协议的功能。客户在使用 BlueNRG-2 芯片设计产品时,通常会将其当作方案中的主控芯片来用,控制外围器件,最常见的应用就是使用 GPIO 输出高低电平控制外部器件或作为某些器件的开关使能信号,本文讨论下 BlueNRG-2 在低功耗模式下,客户关于 GPIO 口使用上的一些常见问题。

LAT1158 STM32H723 的序列 ADC 无法启动转换
(0.1M)
405
2022-10-19

文档说明:客户使用 ADC 进行序列转换,配置完成后,不调用 Cube 库函数而使用寄存器操作进行ADC 转换,发现无法启动 ADC 转换,且无任何报错。如果只使用一个通道转换 ADC,则可以正常启动 ADC 转换。

LAT1027 ADC 触发源介绍
(0.1M)
742
2022-04-12

文档说明:在STM32 MCU 中,ADC 有多种启动触发方式,本文对各种触发源的原理进行介绍,方便大家以后如何选择合适的触发源。

LAT1065_STM32G4中ADC触发分频的实现方式
(0.1M)
727
2022-04-12

文档说明:当前的数字电源设计中,ADC 与定时器是最重要的两个外设,算法基于ADC 的采样结果来计算更新PWM输出,以实现环路控制。一般情况下使用定时器的复位/周期事件或是某个比较事件来触发ADC 转换,然后在ADC 转换完成中断中执行环路算法,让ADC 的转换频率、算法执行频率与PWM 频率保持一致。但是某些情况下ADC 的转换频率或是环路计算频率跟不上PWM 的频率,需要对ADC 的触发进行分频,实现每N 个PWM周期触发一次ADC 转换。本文基于STM32G474 介绍在高精度定时器与高级控制定时器中如何实现

LAT1096 ADC交错工作方式碰到的问题与解决方法
(0.1M)
511
2022-01-18

文档说明:在G4中存在最多5个ADC转换单元,其中ADC1/2和ADC3/4可以工作在双路模式下(Dual mode),双路模式的交错工作方式可以提高ADC的采样速率,实现采样率翻倍。客户在使用交错工作方式时,发现了一些问题。本文将对出现的问题进行解释,并给出解决办法。

LAT1018 STM32F334的DAC输出管脚功能
(0.1M)
441
2021-08-11

文档说明:STM32F334 系列 MCU 中包含了 2 个 DAC 模块,总共 3 路 DAC 输出,且 DAC1-CH2 和DAC2-CH1 的通路上包含了一个 Switch 开关,可以控制 DAC 是否输出到外部管脚。客户在Switch 开关禁能的情况下将原本的输出管脚做 GPIO 使用,发现无法控制其输出电平。

STM32多个ADC模块同时采样转换的应用示例
(0.5M)
2445
2019-07-18

文档说明:本文重点介绍利用含有3个ADC模块的STM32F4、STM32F7等系列,以满足多个ADC模块同时工作的需要

LAT0618 STM32F334上管脚的ADC和DAC复用问题
(0.3M)
356
2018-09-25

文档说明:本文确认了:STM32F334的PA5和PA6在DAC通道与GPIO断开的情况下是可以当作ADC的管脚的。

LAT0391 模拟比较器COMP在STM32H7上的应用
(0.7M)
304
(23.8M)
257
2017-11-28

文档说明:STM32H7集成了运算放大器(COMP),可与模拟信号进行比较来进行电压检测,内置的COMP节省了MCU外接COMP的硬件成本。本文档将介绍STM32H7的片内COMP的不同工作模式,并提供配置COMP的例程。

LAT0378 运算放大器OPAMP在STM32L4上的应用
(0.7M)
318
(2.4M)
258
2017-09-22

文档说明:STM32L4集成了运算放大器(OPAMP),可对模拟信号进行放大处理,可节省MCU外接OPAMP的硬件成本。本文档将介绍STM32L4的片内OPAMP的不同工作模式,并提供配置OPAMP的例程。

LAT0356 STM32L053 comp2 比较电压无效问题
(0.2M)
297
2017-08-09

文档说明:某客户在调试STM32L053的比较器1时,使用内部1.2V的参考电压,没有问题.但当使用比较器2时,使用同样的设置,却发现比较电压无法调到1.2V,只能设置到0.6V左右,到时是什么问题呢?

LAT0236 STM32 ADC模拟看门狗及其应用
(0.3M)
319
2017-04-07

文档说明:模拟看门狗特性允许应用程序检测输入电压是否超出用户定义的高低阈值,用户可以预先设定个模拟看门狗的上下限电压值,一旦采集到的电压超出该上下限,将会触发模拟看门狗中断。模拟看门狗一般用于检测单个的常规或注入转换通道,或同时检测所有的常规和注入通道。

LAT0296 STM32L4系列中ADC通道配置上的区别
(0.3M)
304
2017-03-21

文档说明:即使同是STM32L4 系列中的子系列,其配置也可能会有微小的变化,需要注意一下。

LAT0210 STM32F30x禁止ADC已关闭情况下再次关闭ADC
(0.3M)
332
2017-03-21

文档说明:STM32F30x 系列的12 位SAR ADC 有很多鲜明的特色性能,比如采样率可以达到5 MSPS,可支持差分输入,等等。但是,由于设计的不同,在使用上也有不少不太一样的地方,我们在使用STM32F30x 的ADC 外设的时候,还是要仔细了解一些使用的细节。

LAT0283 PWM硬件间隔触发ADC
(0.3M)
362
2016-12-30

文档说明:在各种应用场景中,比如电机,电源,变频器等应用中,ADC的采样点会有很严格的要求,如果采样点选择错误,会给整个控制系统造成严重后果,本文针对STM32Fxxx的PWM波硬件间隔ADC采样实现方式做简要介绍。

LAT0242 ADC连续采样浮空引脚问题
(0.2M)
320
2016-07-14

文档说明:本篇讨论了一个由ADC 连续模式下采样浮空引脚出现的问题,分析了其原因。

LAT0223 STM32F1的DAC示例详解
(1.8M)
317
2016-06-21

文档说明:基于学习的目的,详细讲解关于Cube库中的DAC的功能。本次介绍DAC。

LAT0143 STM32F30x的ADC采样的傅立叶变换
(0.3M)
382
(3.0M)
313
2015-11-11

文档说明:本文目的是演示如何使用STM32F30x 内部的DSP 进行浮点快速傅立叶变换(FFT),为联系实际应用,使用ADC 对波形发生器进行ADC 采样,然后对ADC 采样结果进行FFT, 与Matlab 仿真结果进行比较察看最终结果的准确性。会使用到ARM的DSP 库文件,以及STM32F30x 的浮点运算单元以及DSP 指令等。

LAT0039 ADC 键盘读键不准
(0.2M)
263
2015-07-28

文档说明:该问题由某客户提出,发生在 STM32F103VBT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品设计中,使用了 STM32 的 ADC 扫描按键。为了能在低功耗模式下通过按键唤醒 STM32,按键信号在送给 ADC 的同时,也送给一路外部中断,如图(一)所示。在待机状态下,有按键被按下时外部中断输入引脚上的电平会向下降跳变,从而唤醒 STM32。之后,STM32 通过 ADC 采样来判断是哪一个按键被按下,如果是电源键,则做开机处理,否则回到待机状态。在实测中,发现这种情况下对按键的误判率很高,造成开 机困难。调

LAT0031 ADC 对小信号的转换结果为零
(0.2M)
307
2015-07-28

文档说明:该问题由某客户提出,发生在 STM32F103VBT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品设计中,使用了 STM32 的 ADC 扫描按键。在软件调试时,发现对于小于 200mV 的输入信号,ADC 转换出的结果匀为 零。

LAT0093 DAC无法输出0V的问题分析解决
(0.3M)
278
2015-07-28

文档说明:该问题由某客户提出,发生在STM32F100R8T6器件上。据其工程师讲述:在使用 STM32F100 的DAC时,不管如何设置输出的值,最低只能输出到63mV,无法输出0V,而63mV 的电压经过他的放大电路,对产品的性能产生较大的影响。故其工程师询问是否有办法可以输出0V?

LAT0034 扫描模式下 ADC 发生通道间串扰
(0.2M)
330
2015-07-28

文档说明:该问题由某客户提出,发生在STM32F103VDT6 器件上。据其工程师讲述:在其产品中,需要使用STM32 的 ADC 对多路模拟信号进行同步采样。在具体的实现上,采用了 ADC 常规通道的扫描模式来完成这一功能。然而,在调试中过程中发现一个奇怪的现象:当将各路模拟信号的电平设置成相同时,ADC 对各路模拟信号的转换结果相同,用 A 来表示。改变其中一路模拟信号的电平,并保持其各路模拟信号的电平不变,则 ADC 对该路信号的转换结果变为 B。然而,此时与其在扫描次序上相邻的下一路模拟信号的转换结果也发生

LAT0086 DAC无法输出满量程电压的分析解决
(0.2M)
248
(0.0M)
214
2015-07-28

文档说明:该问题由某客户提出,发生在 STM32L100RBT6 器件上。据其工程师讲述:在使用STM32L100 的DAC1时,为了能够输出满量程,客户工程师将DAC 的Output Buffer 关闭,当DAC 的输出值为0x000 时,可以正常输出0V,但是当DAC 的输出值为0xFFF 时,输出电压却只有0.67V。客户工程师甚是不解。